產品功能及特性

• 最新最高的歐盟量測標準
• 光纖耦合的傳感測頭技術
• 同時具有長度和角度測量的最高精度
• 高度穩頻He-Ne雷射作爲長度基準
• 環境因素引起的雷射波長變化進行修正
• 高精度振動分析和長度測量系統

SP-NG 雷射干涉儀

• 量測範圍 : 0-80 M，解析度 : 0.5 nm
• 靈活、超精確的長度測量系統
• 現代工業防濺水設計
• 單光束測量原理可大幅度減少阿貝Abbe誤差
• 緊湊的結構方便現場使用

SP-DI 雙光束雷射量測儀

• 量測範圍 : 0-5 M/12°，解析度 : 0.5 nm/0.001 arcsec
• 雙光束差異長度和角度測量，可達最高的準確性
• 感測器頭以鋁合金或不鏽鋼為結構
• 長期量測穩定性高
• 差分測量可將環境影響降至最低

SP 5000 TR 三光束雷射量測儀

• 量測範圍 : 0-5 M/12°，解析度 : 2 nm/0.002 arcsec
• 同時測量長度、pitch和yaw角度
• 快速易用的 DIN ISO 230-1 角度量測軟體和軸的直度測量
• 快速顯示結果的校準軟體
• 根據阿貝Abbe偏移量校正測量誤差

SP 15000 C 多自由度雷射量測系統

• 量測範圍 : 0-15 M/ 5°，解析度: 2 nm/ 0.0004 arcsec
• 同步、連續5 DOF自由度測量長度、pitch和yaw角度以及直度
• 單軸直度的水平和垂直元件由可旋轉光學元件做測量。
• 採用標準校準及量測分析軟體
• 通過集成光束方向檢測輕鬆處理和調整光路對位

LSV-NG 雷射震動量測分析系統

• 高精度、非接觸振動和長度測量
• 可選用定焦式或變焦式機種,工件表面粗度不受限
• 頻率範圍內的位移測量0–5 MHz
• 可以通過反射微細雷射光點進行測量
• 視窗介面振動測量軟體含光譜分析的 FFT 分析軟體

NA 雷射顯微震動量測分析系統

• 可測量頻率範圍 : 0-5 MHz
• 微型物體顯微鏡的高精度非接觸振動測量
• 特定於應用程式的整合
• 可測振動光譜及共振頻率等
• 用於光譜分析的 FFT 軟體

NMM-1奈米定位量測系統

• 測量和定位範圍：25 mm x 25 mm x 5 mm 解析度：0.1 nm
• 精度最高的3D多感測器定位和測量系統
• 控制採用在系統上易於使用的腳本語言
• 定製探針系統，如雷射對焦感測器LFS系列、原子力顯微鏡、白光干涉儀、3D微探頭
• 操作模式：動態定位系統測量或系統在連續掃描模式或單步模式下運行

LCS 氣候量測站

• 以最高精度獲取溫度、氣壓和空氣濕度的量測值
• 有線和無線感測器的連接
• 所有測量探頭與測量電子產品一起進行數位校準
• 可選購所有感測器的工作校準與工作測試證書
• 易用於監控精密測量和測試設置

SL 氦-氖雷射

• 定製雷射耦合成單模式和多模式光纖
• 適合標準和極化獲得單模纖維
• 對於頻率穩定和不穩定的 HeNe 雷射
• 光纖的末端用光纖插頭或辮子組裝。
• 可選購法拉第隔離器，以消除背部反射